Citation: | WANG Likang, ZHANG Jun, GAO Shuai, LI Jiale. Research on Particle Impact Noise Detection Test Method and Measurement Management Optimization[J]. Metrology Science and Technology, 2022, 66(7): 58-64, 6. doi: 10.12338/j.issn.2096-9015.2021.0082 |
[1] |
Zhang H, Wang S J, Zhai G F. Research on Particle Impact Noise Detection Standards[J]. IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, 2008, 44(2): 808-814. doi: 10.1109/TAES.2008.4560223
|
[2] |
杜银波, 凌学民. 微波组件生产中多余物的来源与预防措施[J]. 半导体技术, 2011, 36(3): 247-251.
|
[3] |
陈陶, 张嘉欣. 陶瓷封装中PIND典型问题分析与处理[J]. 电子与封装, 2020, 20(2): 15-20.
|
[4] |
李秋枫. 多腔体密封集成电路的颗粒碰撞噪声检测PIND研究[J]. 集成电路应用, 2019, 36(8): 49-51.
|
[5] |
席善斌, 高金环, 裴选, 等. 军用标准PIND试验方法发展与对比分析[J]. 半导体技术, 2019, 44(4): 313-320.
|
[6] |
宋钦泽. 基于PIND的航天用集成电路极限检测条件研究[D]. 鞍山: 辽宁科技大学, 2018.
|
[7] |
高开明. 微粒碰撞噪声检测(PIND)有效振动频率段试验研究[D]. 哈尔滨: 哈尔滨工业大学, 2015.
|
[8] |
国防科学技术工业委员会. 半导体分立器件试验方法: GJB 128A-97 [S]. 北京: 中国航空综合技术研究所, 1997.
|
[9] |
王重, 刘黎明. 拟合优度检验统计量的设定方法[J]. 统计与决策, 2010(5): 154-156.
|
[10] |
中国人民解放军总装备部. 电子及电气元件试验方法: GJB 360B-2009[S]. 北京: 总装备部军标出版发行部, 2010.
|
[11] |
中国人民解放军总装备部. 微电子器件试验方法和程序: GJB 548B-2005 [S]. 北京: 总装备部军标出版发行部, 2005.
|
[12] |
国家质量监督检验检疫总局. 颗粒碰撞噪声检测系统校准规范: JJF 1220-2009[S]. 北京: 中国计量出版社, 2009.
|
[13] |
丁百湛, 张成芳. 利用设备期间核查保证检测结果有效[J]. 质量与认证, 2018(8): 69-70.
|
[14] |
赵国强, 李超, 李凤阁, 等. PIND用冲击闭环控制系统的建模与仿真[J]. 电器与能效管理技术, 2015(12): 6-11,15.
|
[15] |
孙培强, 胡畅, 王凯. 建立休哈特控制图对期间核查全过程进行统计分析[J]. 上海计量测试, 2014, 41(1): 53-55.
|